如何使用KLIPPEL電聲測(cè)試儀?
瀏覽次數(shù):2075發(fā)布日期:2022-03-16
KLIPPEL電聲測(cè)試儀處理菜單提供數(shù)學(xué)運(yùn)算功能,數(shù)據(jù)處理功能以及其它專門(mén)曲線處理能力,這些能力可應(yīng)用于測(cè)量數(shù)據(jù)或輸入的其它數(shù)據(jù)。濾波,刻度,拼接,相位生成和數(shù)學(xué)運(yùn)算使用戶能對(duì)所測(cè)得的數(shù)據(jù)進(jìn)行*控制,而不需要使用外部數(shù)據(jù)處理程序。
1、實(shí)用程序操作
LMS提供了豐富的實(shí)用程序,用于數(shù)據(jù)處理和圖形處理。
2、揚(yáng)聲器參數(shù)推導(dǎo)
這個(gè)對(duì)話框提供生成揚(yáng)聲器參數(shù)的五種不同方法。而且,所生成的參數(shù)可以被制作用于兩種模型:標(biāo)準(zhǔn)型或LEAP型。數(shù)字參數(shù)可以打印,保存到文件中或者復(fù)制到剪貼板。
3、刻度參數(shù)
刻度參數(shù)對(duì)話框包括兩組主要控制:橫向刻度和縱向刻度,這個(gè)功能很強(qiáng)的對(duì)話框能夠以幾乎任何一種可能的方式繪制曲線數(shù)據(jù)。
4、系統(tǒng)硬件
LMS由低失真正弦波振蕩器、雙穩(wěn)態(tài)可調(diào)跟蹤濾波器、麥克風(fēng)前置放大器、門(mén)控峰值/平均電平探測(cè)電路組成。
KLIPPEL電聲測(cè)試儀的組成:
電聲測(cè)試儀由揚(yáng)聲器測(cè)試儀、傳聲器測(cè)試儀和耳機(jī)話筒組件測(cè)試儀組成,能按照國(guó)家有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試揚(yáng)聲器、受話器、耳機(jī)、送話器、傳場(chǎng)器、音頭、咪頭等電聲響器件的電聲特性。
揚(yáng)聲器測(cè)試儀能測(cè)試和顯示揚(yáng)聲器、送話器、耳機(jī)的靈敏度頻率特性曲線、阻抗頻率特性曲線、二次和三次諧波頻率特性曲線,能測(cè)量和顯示在1kHz頻率時(shí)的靈敏度、阻抗、二次和三次諧波失真的數(shù)值,能測(cè)量和顯示諧振頻率F0的數(shù)值。
傳聲器測(cè)試儀能測(cè)試和顯示傳聲器、音頭、咪頭的靈敏度頻率特性曲線。
耳機(jī)話筒測(cè)試儀能測(cè)試和顯去手機(jī)用免提耳機(jī)話筒組件的靈敏度頻特性曲線。